YG211S/YG212S脈沖式線圈匝間測(cè)試儀原理說明

1.4.1. YG212S脈沖式線圈匝間測(cè)試儀層間短路測(cè)試原理

層間短路測(cè)試能夠在不損壞被測(cè)件的條件下測(cè)試其電氣性能，首先條件是能在短暫的瞬間判別線圈的品質(zhì)。測(cè)試時(shí)與標(biāo)準(zhǔn)線圈測(cè)量時(shí)同樣的脈沖通過電容器施加于被測(cè)試線圈，由于線圈電感量和Q值的存在，將響應(yīng)一個(gè)對(duì)應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形，比較該衰減波形的某些特征，可以檢測(cè)線圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異，也可以根據(jù)出現(xiàn)的電暈或?qū)娱g放電來判斷絕緣不良。

圖1.4.1-1 線圈層間短路測(cè)試原理簡圖

圖1.4.1-2 中的自激振蕩衰減波形直接和線圈的電感值L及品質(zhì)因素Q值有著密切的關(guān)系，而L值及Q值又和線圈的圈數(shù)、制造工藝、是否空心線圈并且還與鐵芯材料特性又有著不可分割的牽連，施加電壓又是高壓脈沖電壓，因此，當(dāng)線圈有短路、匝間局部短路或由于絕緣損傷引起的層間或匝間放電現(xiàn)象自然很容易被發(fā)現(xiàn)。

圖1.4.1-2 線圈衰減振蕩波形分析

1.4.2 YG212S脈沖式線圈匝間測(cè)試儀儀器原理框圖

圖1.3.2 工作原理框圖

1.4.3 YG212S脈沖式線圈匝間測(cè)試儀儀器工作原理

YG211S/YG212S系列脈沖式線圈匝間測(cè)試儀以MCU中央信息處理系統(tǒng)為核心，由它控制高壓脈沖發(fā)生器對(duì)線圈施加一次極短時(shí)間的高壓脈沖，線圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減振蕩,其瞬態(tài)波形的模擬信號(hào)經(jīng)高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后反饋至MCU信息處理系統(tǒng)進(jìn)行時(shí)間、電暈量、面積、相位等參數(shù)的運(yùn)算，處理結(jié)果保存在MCU信息處理系統(tǒng)的電子存儲(chǔ)器中，并用直觀易懂的文字、數(shù)據(jù)及圖形顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現(xiàn)的真實(shí)性。并且根據(jù)用戶設(shè)定的條件,對(duì)合格或不合格者進(jìn)行報(bào)警處理。